柱效計算

柱效以每根柱子的理論塔板數表示，計算公式為 N = 5.54 ( t _R / w _0.5 ) ² 其中 t _R 是目標分析物的保留時間，w _0.5 是半峰高處的峰寬.

即使峰沒有與相鄰峰完全分離（分辨率差），只要峰之間的谷值低于半峰高，這種半峰高方法也可以確定每根色譜柱的理論塔板數 (N)。峰的高度。 半高測量通常是數據系統自動確定的首 選方法。

每根柱子的理論塔板數越大，峰越尖！ 如果您需要計算每米的理論塔板數，則必須使用以下公式：

每根色譜柱的理論塔板數 x 100/HPLC 色譜柱長度 (cm)= 每米理論塔板數

峰值不對稱因子

峰不對稱因子，通常表示為 A _s 使用以下等式計算 A _s = b/a 其中 b 是從峰中點（ 與峰*高點垂直 ）到峰后緣的距離，在 10% 處測得峰高，a 是在 前緣到峰中點（ 峰高的 處 從峰 與峰*高點垂直）的距離 10% 測得的 。

拖尾因子

解析度

分辨率 (R _s ) 是分離質量的量度。 為了確定 2 個峰之間的分離度，我們需要測量 2 個目標峰（t 的保留時間以及 _r2 和 t _r1 ） 在基線處的兩個峰的寬度（w ₁ 和 w ₂ ）。峰的兩側。 通常計算如下：

R _s s = (t _r2 – t _r1 ) / ((0.5 * (w ₁ + w ₂ )

由于幾乎每個峰都顯示出一定程度的拖尾，因此為了允許少量拖尾并在峰之間仍然保留一點平坦的基線， R _s 通常需要 ≥ 2.0 以在兩個感興趣的峰之間獲得適當的分辨率。

該方程非常方便，并為峰分辨率計算提供了良好的結果，但僅當峰在基線水平上分辨時才有用。 但是，我們經常會遇到峰之間相距很小的情況。 峰在底部重疊，在基線處測量峰寬幾乎是不可能的。

在這些情況下，就像我們在中間峰高處測量效率一樣，可以使用相同的方法通過以下等式計算分離度：

R_s = (t_R2 – t_R1) / ((1.7 * 0.5 (w_0.5,1 + w_0.5,2))

其中w _0.5,1 和w _0.5,2 是在峰值高度一半測得的峰值的寬度。 請注意，將因子 1.7 添加到分母以調整半高處的寬度差異。 半高技術是許多數據系統測量分辨率的方式，因為它比基線寬度更容易測量。

每根色譜柱的理論塔板數（性能）/對稱因子/拖尾因子/分辨率可以并且將會根據所使用的分析類型和分析條件而變化。